Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100

Микроскоп предназначен для исследования реальной структуры твердого объекта (точечных дефектов, дислокаций, межфазных границ и т.д.); исследование кристаллохимических параметров; получение прямого изображения кристаллических решеток и сканирующих темно-польных изображений (с разрешением 0.14 нм в просвечивающем и 1 нм в сканирующем режимах). Изучение многокомпонентных тонкодисперсных материалов с использованием метода микродифракции электронов.